电离辐射环境监测规范

1、电离辐射环境监测规范技术监督科洪韵13918323293监测监管范围使用IV、V类放射源使用III类射线装置非密封源工作场所IV、V类放射源Ⅳ类放射源为低危险源。基本不会对人造成永久性损伤，但对长时间、近距离接触这些放射源的人可能造成可恢复的临时性损伤。主要用于料位、密度测量、测厚等。Ⅴ类放射源为极低危险源。不会对人造成永久性损伤。主要有校准源、ECD、静电消除器、敷贴器等。I125籽源归市监管。III类射线装置非密封源工作场所监测项目

2、X、γ辐射剂量率α、β表面污染监测流程监测方案的制定查看资料(环评、环评批复、监测对象基本信息、工作参数等)现场踏勘(确定监测对象及其周围环境等)编制监测方案(监测项目、监测仪器、监测布点、监测时间)监测流程现场监测记录监测条件(监测日期、监测仪器、被检对象工况、环境条件等)绘制监测示意图监测点位描述记录监测数据监测流程报告编制监测对象基本情况描述，尤其是工况监测结果监测结论电离辐射评价标准电离辐射监测标准X、γ辐射剂量率监测规范环保—

3、—总体对屏蔽墙外的X、γ辐射剂量率进行监测。环境地表γ辐射剂量率测量高度通常为距地1m。记录内容测量日期(年、月、日、时、分)测量人测量仪器的名称、型号和编号测点编号、名称及描述环境参数卫生——具体X、γ辐射剂量率评价依据环保——总体GB188712002卫生——具体不同监测对象不同评价依据《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》GB18871–2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》GB18871–2002X射线机房监测规范DB314

4、622009X射线机房单开门X射线机房双开门X射线机房监测规范DB314622009X射线机房观察窗及操作台X射线机房观察窗X射线机房监测规范DB314622009X射线机房监测规范DB314622009X射线机房监测规范DB314622009其他可能发生泄漏的地方：通风管道口穿墙管线洞口传片口在额定管电压、额定管电流或装置可以达到的最高曝光条件下检测。检测中采用水箱体膜。X射线机房结果评价DB314622009屏蔽满足GB188712

5、002中的剂量限值要求。职业工作人员与公众限值要求不同，根据环评确定监测区域相应限值。对于放射工作人员剂量不大于0.1mSv周，对于周围公众剂量不大于0.01mSv周。在距机房屏蔽墙外表面0.3m处周围剂量当量率不大于2.5?Svh。自屏蔽X射线机X射线衍射仪X射线荧光光谱仪自屏蔽X射线机X射线镀层厚度测量仪自屏蔽X射线机X射线焊点检查机自屏蔽X射线机监测规范自屏蔽X射线机结果评价GBZ1152002人体可能到达的仪器外表面5cm位置处

6、的空气比释动能率不得超过2.5?Gyh。X射线行李包检查系统X射线行李包检查系统监测规范X射线行李包检查系统监测规范X射线行李包检查系统监测规范X射线行李包检查系统结果评价GBZ1272002系统产生辐射时，距其外表面5cm任意一点的空气比释动能率不得超过5?Gyh。含密封源仪表——密度计密度计多内含Co60或Cs137放射源。用于挖泥船、化工厂测量液体密度。含密封源仪表——密度计密度计监测规范密度计源容器外围的剂量当量率测量区示意图含

7、密封源仪表——料位计料位计多含Cs137或Co60放射源。用于测量液面高度。含密封源仪表——料位计料位计监测规范料位计源容器外围的剂量当量率测量区示意图料位计监测规范含密封源仪表——测厚仪测厚仪多内含Am241、Sr90、Kr85、Tl204、Pm147等放射源。多用于测量钢板、薄膜、纸张厚度。含密封源仪表——测厚仪含密封源仪表——测厚仪测厚仪监测规范测厚仪监测规范含密封源仪表——核子秤核子秤多内含Cs137放射源。用于称量散装物料。含

8、密封源仪表监测规范β、γ反散射式测量仪表外围的剂量当量率测量区示意图含密封源仪表——水分计水分计多内含Cs137、AmBe中子源。用于测量含水量。水分计监测规范表面反散射式测量仪表外围的剂量当量率测量区示意图含密封源仪表——骨密度仪骨密度仪多内含Am241放射源。用于骨密度测量。骨密度仪监测规范含密封源仪表——静电消除器静电消除器多含Po210放射源。用于去除电子元器件静电。静电消除器监测规范含密封源仪表结果评价对于发射α、低能β低能X

9、射线的密封源，距边界外5cm处的剂量当量率应小于2.5?Svh。除上述检测仪表外，在不同场所使用时，距所示边界外5cm和100cm处的剂量当量率应满足下表的要求。含密封源仪表结果评价敷贴源监测规范仪器校准源监测规范#1非密封源工作场所监测规范X、γ辐射剂量率检定证书(相关页)X、γ辐射剂量率校准因子X、γ辐射剂量率结果的计算检定获得仪器的校准因子Cf剂量率测定值（周围剂量当量率H（10））的计算公式注：以上测量值中未扣除仪器对宇宙射线、

10、陆地γ辐射、仪器本底噪声的响应。如果有要求，应予以扣除。仪器对不同能量射线的响应（Cf）是不一样的。一般仪器检定的Cf值是以137Cs（Eγ=662keV）为标准的。如果认为有必要，应取得相应放射性核素的校准因子。使用检定证书算得的是周围计量当量率H(10)的值。如需要其他的剂量率数值，应作相应的变换。α、β表面污染监测规范（GBT14056.12008）直接测量仪器本底计数率测量期间的几何条件与仪器校准时尽量一致。α测量时，探测器距被

11、测表面5mm。β测量时，探测器距被测表面10mm。α、β表面污染监测规范（GBT14056.12008）间接测定尽可能擦拭100cm2的被测面积。尽可能用圆形滤纸作为擦拭材料。平滑表面用滤纸擦拭，粗糙表面用棉纺织品擦拭，擦拭样品的总面积应小于或等于探头的灵敏面积。α、β表面污染监测规范（GB188712002）α、β表面污染监测规范α、β表面污染结果评价（GB188712002）α、β表面污染检定证书α、β表面污染结果计算检定获得仪器的

12、表面活度响应(R)实测时计算表面污染测量值的公式注：表面污染仪对γ等会有响应，应当予以扣除。仪器对不同能量射线的表面活度响应(R)是不一样的。根据《α、β和γ表面污染仪检定规程》（JJG4781996）的规定，仪器通常以241Am作为α标准源，以204Tl作为β标准源，以125I或129I作为γ标准源进行检定的。如果认为有必要，应取得相应放射性核素的校准因子。α、β、γ表面污染应当分别计算。表面污染测量值应当是一定面积的平均值。具体应按